Profilm3D 白光干涉仪

Profilm3D使得光学轮廓测量更易负担 表面粗糙度和表面形貌测量可以用比探针式轮廓仪成本更低的仪器来进行。 Profilm3D具有3倍於于其成本仪器的次纳米级垂直分辨率, Profilm3D 同样使用了现今最高分辨率之光学轮廓仪的测量技术包含白光干涉(WSI)及相移干涉(PSI)。

3D显微镜 共聚焦显微镜

Zeta-20是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot?技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。

MicroXAM-800 白光干涉仪

MicroXAM-800是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪,采用相位扫描干涉技术(PSI)对纳米级特征进行测量,以及采用垂直扫描干涉技术(VSI)对亚微米至毫米级特征进行测量。 MicroXAM-800的程序设置简单灵活,可以进行单次扫描或多点自动测量,适用于研发和生产环境。