NanoFlip

产品经理:  奚丹丹

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Product image of the NanoFlip

产品描述

NanoFlip提供高精度XYZ位移,可定位样品进行测试,还提供翻转机制,可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法,涵盖一系列测试协议,并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView软件可以记录SEM或其他显微镜图像,并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°,无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。

InForce 50 actuator

主要功能

  • 1.InForce 50驱动器,用于电容位移测量,并配有电磁启动的可互换探头
  • 2.InQuest高速控制器电子设备,具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数
  • 3.用于样本定位的XYZ移动系统
  • 4.SEM视频捕获,可以将SEM图像和测试数据进行同步
  • 5.独特的软件集成压头校准系统,可实现快速,准确的压头校准
  • 6.与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能
Continuous stiffness measurement

主要应用

  • 1.硬度和模量测量(Oliver-Pharr)
  • 2.连续刚度测量
  • 3.高速材料性质分布图
  • 4.ISO 14577硬度测试
  • 5.聚合物的纳米动态力学分析(DMA)
  • 6.定量刮擦和磨损测试
Batteries and energy storage

工业应用

  • 1.大学、研究实验室和研究所
  • 2.支柱和微球制造
  • 3.MEMS(微机电系统)
  • 4.材料制造(结构压缩/拉伸/断裂测试)
  • 5.电池和元件制造
NanoFlip hardness              measurement