F20 系列光学膜厚仪

产品经理:  奚丹丹

联络电话:+86-21 189 1839 3337

电子邮件:sunny.xi@scientech.com.cn

 

世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统

只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,美职每天从美职的客户学习更多的应用. 

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)http://www.filmetrics.cn/videos/how-to-measure-with-a-filmetrics-f20